Journée de la Métrologie en Aérospatiale

Madame, Monsieur,

Creaform, l'École Polytechnique de Montréal et Renishaw se permettent de réitérer l'invitation à votre égard pour la tenue toute première Journée de la métrologie en aérospatiale (JMA).

L'événement se tiendra au Pavillon Lassonde, sur le campus de la Polytechnique, le 5 mars prochain à compter de 8 h.

Au-delà du thème de l'aérospatiale, les conférences et ateliers présentés permettront aux participants d'en savoir plus sur les meilleures pratiques en métrologie et de discuter du sujet avec les autres. C'est donc dire que les intervenants de tous les domaines pourront trouver leur compte lors de la JMA 2009.

De plus, la JMA sera l'occasion d'assister à des démos de différents appareils de mesure, dans le cadre de divers ateliers techniques.

PROGRAMME DE LA JMA 2009

CONFÉRENCES

Développement de cahiers visuels pour l'assemblage et l'inspection de composants aéronautiques – Denis Lemelin, Bombardier Aéronautique, Avions spéciaux et amphibies

Gabarits d'assemblage aéronautiques – André Lepage, Fafard Usinage de Précision

Suivi diagnostique des MMT et machines-outils – René Mayer, École Polytechnique de Montréal

Technologies et méthodes de métrologie – Félix-Étienne Delorme, Pratt & Whitney Canada

La gestion des variations géométriques des produits : le présent et l’avenir – Antoine Tahan, École de technologie supérieure

État de l’art en métrologie – Creaform et Renishaw

– LUNCH –

ATELIERS TECHNIQUES

+ Numérisation 3D au laser et métrologie
+ Laser trackers et ajustement de gabarits
+ Atelier sur l’utilisation d’une CMM
+ Bras de mesure et mesure de pièces déformables
+ Et plus...

– COCKTAIL –

Le coût d’inscription est de 50 $ pour la journée (dîner, pauses-café et cocktail de soirée compris). Pour réserver votre place dès maintenant, rendez-vous au https://www.regonline.com/63367_694643J. Vous avez jusqu’au 19 février pour vous inscrire.

Au plaisir de vous rencontrer le 5 mars prochain!