研究者向けCreaform ACADEMIA教育パッケージ

研究者向け教育ソリューションスイート

イノベーションを推進し、さらに、Creaform ACADEMIAで研究プロジェクトをより一層推し進めましょう。

メトロロジーを活用して革新性の限界を押し広げようとする研究者向けの新たなソリューションスイート、Creaform ACADEMIAなら、それを可能にします。Creaform ACADEMIAは、研究現場の現実に対処しつつ、質の高い研究を行えるようにするだけでなく、インダストリー4.0で広く活用されている最新のイノベーションも活用できるようにします。

このソリューションスイートには、メトロロジー・グレード（寸法検査レベル）の3DスキャナーまたはポータブルCMM（PCMM）、無料のアプリケーションソフトウェア、さらに、工業用3D測定技術をすぐに使えるようにする、拡張機能も含まれています。また、Creaform ACADEMIAには、安心のカスタマーケアプラン（5年）も付いています。

Creaform ACADEMIAは、質の高い研究を行えるようにするだけでなく、市場で最も新しいイノベーションも活用でき、価格も手頃です。

教育プロモーション

新価格
新たな限定バンドルライセンスの提供

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メトロロジーツールの機能を実際に体験できます

賞を獲得した、Creaformの3D測定ソリューションをぜひご活用ください

装置や予算の制約によって、最先端の研究プロジェクトが遅れるようなことがあってはなりません。Creaform ACADEMIAは、賞を獲得した、革新的な3Dスキャナーを豊富に取り揃えて研究者にご提供します。どのような先駆的研究を行っていようと、Creaformテクノロジーが定評のある、かつてないスピード、携帯性や精度がその研究に貢献することは間違いありません。

ソリューションスイートに含まれるもの

CreaformのGo!SCAN 3D、HandySCAN 3D、MetraSCAN 3DスキャナーおよびHandyPROBEポータブルCMMなどのメトロロジー・グレード（寸法検査レベル）3D測定技術のラインアップから選択
リバースエンジニアリングと検査を対象にした、Creaform ACADEMIAのソフトウェア
安心のCreaform ACADEMIAカスタマーケアプラン（5年）

研究の躍進を支える機能

複雑なプロジェクトを実行できるよう設計されたターンキーソリューション
研究者向け特別価格でご提供する、メトロロジー・グレード（寸法検査レベル）の3DスキャナーおよびポータブルCMMの完全な製品ライン
ポータブルで高速なだけでなく、使いやすさも実現した3D測定ソリューション

技術仕様

教育

技術仕様

		Go!SCAN 20™	Go!SCAN 50™	HandySCAN 700™	MetraSCAN 750™\|Elite
測定対象物サイズ範囲（推奨）		0.05～0.5 m	0.3～3.0 m	0.1～4 m	0.2～6 m
精度 ⁽²⁾		Up to 0.100 mm (0.0039 in)		Up to 0.100 mm (0.0039 in)	Up to 0.030 mm (0.0012 in)	Up to 0.030 mm (0.0012 in)
解像度		0.100 mm	0.500 mm	0.050 mm	0.050 mm
測定速度		550,000測定値/秒		550,000測定値/秒	480,000測定値/秒	480,000測定値/秒
容積精度 ⁽³⁾ （動作容積に基づく）	9.1 m³	N/A			N/A	N/A	0.064 mm
容積精度 ⁽³⁾ （動作容積に基づく）	容積精度 ⁽³⁾ （動作容積に基づく）	N/A			16.6 m³	N/A	N/A	N/A	0.078 mm
容積精度（対象パーツのサイズによる）		0.300 mm/m (0.0036 in/ft)⁽⁴⁾		0.300 mm/m (0.0036 in/ft)⁽⁴⁾	0.020 mm + 0.060 mm/m (0.0008 in + 0.0007 in/ft)	N/A
スキャン範囲		143 x 108 mm (5.6 x 4.3 in)	380 x 380 mm (15.0 x 15.0 in)	275 x 250 mm (10.8 x 9.8 in)	275 x 250 mm (10.8 x 9.8 in)
焦点距離		380 mm	400 mm	300 mm	300 mm
被写界深度		100 mm	250 mm	250 mm	200 mm
光源		白色光（LED）		白色光（LED）	レーザークロス7本（+追加ライン1本）	レーザークロス7本（+追加ライン1本）
レーザークラス		N/A		N/A	2M（目に安全なレベル）		2M（目に安全なレベル）
テクスチャ解像度		50～250 DPI	50～150 DPI	N/A		N/A
ポジショニング方法		対象物の形状や色および/またはターゲット		対象物の形状や色および/またはターゲット	ターゲット	ターゲット（オプション）
重量		0.93 kg	0.95 kg	0.85 kg	スキャナー：1.38 kg C-Track：5.7 kg
寸法（LxWxH）		154 x 178 x 235 mm	150 x 171 x 251 mm	77 x 122 x 294 mm	289 x 235 x 296 mm
動作温度範囲		5～40°C
動作湿度範囲（結露なし）		10～90 %
認定		EC規格に適合（EMC指令、低電圧指令)、IP50、WEEE

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無料のACADEMIAソフトウェアパッケージ

Creaformの最先端のリバースエンジニアリングおよび検査ソフトウェアで、より一層の革新を

Creaform ACADEMIAには、メトロロジーおよび3D測定技術の最新のイノベーションを利用して非常に特異な研究の推進をも可能にする、Creaformの高性能かつ完全に統合された3Dアプリケーションソフトウェアスイートが含まれています。教育ソリューションスイートなら、50シートのライセンスをすべて無料でご提供します！

ソリューションスイートに含まれるもの

スキャンデータ取得モジュール

VXscan / VXprobe / VXshot

アプリケーションモジュール

	VXscan VXprobe VXshot¹	VXmodel²	VXinspect²
複数測定モード
メッシュ編集
位置合わせ
幾何学的エンティティ作成
NURBSサーフェス作成
CADソフトウェアへの転送
CADインポート
幾何学的寸法および公差（GD＆T）
レポート出力

⁽¹⁾ スキャンデータ取得モジュールには、Creaformのテクノロジーがすべて搭載されています。

⁽²⁾ VXmodelおよびVXinspectのACADEMIAバージョンは、メッシュインポートをサポートしていません。Creaformテクノロジーでのみ利用可能です。

革新の最前線を走り続けるために

影響力のある、革新的研究プロジェクトを実行するには、研究者は最先端のテクノロジーを使いこなす必要がある、そうCreaformは考えます。Creaform ACADEMIAは、3D測定技術の機能を活用できるようにし、研究の可能性を最大限に引き出します。未来は、今、あなたの手にあります。Creaformの研究者および教育者専用チームにご連絡ください。Creaform ACADEMIAの詳細をご説明します。

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