2021年6月-29日
10:00 am JST
品質管理には、高精度の三次元測定機が必要で、厳しい外観検査が行われてきましたが、従来の座標測定機（CMM）は製造現場への持ち込みが難しく、検査時間もコストも大きいため、製造工程のボトルネックの一つとなっていました。
このセミナーでは、精度、スピード、携帯性と汎用性に優れた3Dスキャナーと検査ソフトウェアを使って、大きさ、形状、材質、表面仕上げや複雑さの度合いにかかわらず効率的な外観検査を行う手法をご紹介いたします。
Speaker
Genta Oda
Sales Leader, Creaform B.U. Ametek Japan